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SL系列三维结构光相机 – 屏蔽罩全检
无需移动工件,精准高速测量
SL系列
方案咨询
行业/项目背景简介
3C电子制造中,屏蔽罩是保护精密元件、抗电磁于扰的关键,其平面度关乎产品性能与可靠性。但传统接触式测量效率低、伤产品且难全检。湾测三维结构光相机,以高精度非接触测量优势,为屏蔽罩平面度检测提供更优解。
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客户获益
  • 实现100%在线全检,大幅提升生产效率。
  • 软件界面友好,操作简单易学,无需专业人员即可进行操作。
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技术优势
  • 主研发的光学成像技术,成像清晰稳定,检测精度±0.02mm。
  • 体积小巧,适合与协作机械臂搭配使用。
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应用选型
  • 选用WONSOR 三维结构光相机SL-01100-E,搭配软件算法,对屏蔽罩实现高精度全检。
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检测要求
  • 检测屏蔽罩的平面度,精度要求0.05mm,重复性要求0.01mm,检测CT≤1s。
案例图示

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